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DevelopersIO 2024 FUKUOKA Day1にて「画像処理AIを用いた外観画像に対する異常検知」をテーマとして登壇しました #devio2024 #クラスメソッド福岡

2024.06.29 14:09
Classmethod.jp
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データアナリティクス事業本部 インテグレーション部 機械学習チームの貞松です。 6/28(金)に開催されたDevelopersIO 2024 FUKUOKA Day1にて「予知保全利用を目指した外観検査AIの開発 〜画像処理AIを用いた外観画像に対する異常検知〜」というタイトルでセッション登壇しました。 本投稿では、セッション概要とセッション資料を掲載します。 セッション概要 以下、イベントページに掲載していたセッション概要の抜粋です。 生成AIブームの波に乗り、企業活動におけるビジネス課題の解決手段としても、A…

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