Ridge-i は、日本電子との共同プロジェクトにて、電子顕微鏡画像に写っていない半導体パーツの位置推定技術を新たに開発しました。 本技術は、電子顕微鏡を用いた外観検査の分野で活用が期待されており、リッジアイは特許取得を目指すとともに、新たに研究開発中の角度検出技術と組み合わせて製品化を計画しています。プレスリリース
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