ニアフィールド・インストゥルメンツ (Nearfield Instruments) とシンガポールのA*STAR IMEが、AIおよび高度なパッケージング時代の半導体計測ソリューションを前進させるための研究協力契約を締結

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高度な半導体計測を提供するリーディングカンパニーであるニアフィールド・インストゥルメンツと、シンガポールのA*STARマイクロエレクトロニクス研究所 (A*STAR Institute of Microelectronics, A*STAR IME) は本日、半導体計測技術の革新を推進するための複数年にわたる研究協力契約を締結した。